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歐規(guī)雙晶直探頭*

簡要描述：歐規(guī)雙晶直探頭*：體積小巧的小直徑特殊探頭，用于近表面小缺陷的探測。小巧的形狀使這種類型的探頭可以用于一些特殊位置或者不易接近位置的檢測。

  • 產(chǎn)品型號：
  • 廠商性質(zhì)：代理商
  • 更新時間：2024-07-10
  • 訪  問  量：1041

詳細介紹

歐規(guī)雙晶直探頭*特性

獨立的聲波發(fā)射和接收單元

縱波垂直傳輸

小焦距探頭具有非常好的近場分辨率

使用耐磨的塑料延遲塊，即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性

延遲塊由一個金屬環(huán)保護以防磨損

在焦點內(nèi)特別適合剩余壁厚的測量

加上特殊的延遲塊（定制產(chǎn)品）能夠在高溫表面測量

歐規(guī)雙晶直探頭*應(yīng)用

 

  • 近表面的小缺陷探測和評估

  • 焦點內(nèi)大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測

  • 腐蝕、銹蝕剩余壁厚的測量（包括高溫情況下測量）

  • 粘結(jié)檢測

    螺釘，螺栓，銷釘

    覆層和堆焊層

    軸，桿，方坯芯檢測

    粗晶材料

    火車車輪

SEB..
用于探測棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷，經(jīng)常用作在中等和大尺寸物體（如鍛造或鑄造的物體）中關(guān)鍵部位小缺陷的探測（如氣孔、微孔和熱裂縫）。更適用于平行物體表面的缺陷定位（如層狀結(jié)構(gòu)缺陷、渣孔以及厚鋼板中的分隔線）。

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SEB1銅棒中心缺陷

MSEB..
常用于所有類型小零件（如螺桿、螺釘、螺母、銷釘、軸承環(huán)、軸承和裝配材料）的檢測，也可用于壁厚和剩余壁厚的測量（如被腐蝕和侵蝕的管子、容器和機械零件）。

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MSEB5彎曲處剩余壁厚的測量

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MSEB4金屬融渣裂縫

SEB..KF

體積小巧的小直徑特殊探頭，用于近表面小缺陷的探測。小巧的形狀使這種類型的探頭可以用于一些特殊位置或者不易接近位置的檢測。

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