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OmniScan X3全聚焦TFM探傷儀的5個優(yōu)點

更新時間:2019-11-27      點擊次數(shù):1388

OmniScan X3全聚焦TFM探傷儀的5個優(yōu)點

 

OmniScan家族的新設(shè)備閃亮登場

 這是我們用于描述新款OmniScan X3探傷儀的詞語。這兩個詞語有何深意? 它們恰當?shù)孛枋隽诉@款OmniScan儀器的強大性能:用戶可以根據(jù)儀器屏幕上顯示的信息,充滿信心地做出正確的判讀。除了可以提供*、高度詳細的圖像之外,OmniScan X3探傷儀還配備有齊全的創(chuàng)新型模擬和可視化工具,可以使用戶在現(xiàn)場確認并驗證檢測情況。OmniScan X3不僅僅是OmniScan MX2的升級版儀器,它實際上是一款功能齊備的相控陣工具箱。得益于儀器的成像和分析能力,被測材料中的缺陷更加難以遁形。

 

更新?lián)Q代檢測設(shè)備,改用OmniScan X3探傷儀的5個原因:

1. 眼見為實:全聚焦方式(TFM)圖像具有很高的清晰度,可使用戶在檢測過程中大受裨益。OmniScan X3探傷儀的全聚焦方式(TFM)處理工具包括一個可以消除回波和偽影的實時包絡(luò)功能,從而增強了探測到難以發(fā)現(xiàn)的微小缺陷的性能,如:細小的高溫氫致(HTHA)缺陷。一旦看到了圖像,就很難駁斥其中顯示的結(jié)果。

未使用實時包絡(luò)功能:高溫氫致(HTHA)缺陷不太明顯
未使用實時包絡(luò)功能:高溫氫致(HTHA)缺陷不太明顯

使用了實時包絡(luò)功能:高溫氫致(HTHA)缺陷明顯可見
使用了實時包絡(luò)功能:高溫氫致(HTHA)缺陷明顯可見

 

2. 全角度覆蓋:通過全矩陣捕獲(FMC)數(shù)據(jù)生成的全聚焦方式(TFM)圖像不僅具有很高的分辨率,而且還可以正確反映工件的幾何形狀,從而可使用戶更輕松地了解缺陷在工件中的位置和方向。用戶還可以同時觀察多4種不同傳播模式的全聚焦方式(TFM)圖像,并比較這些圖像。這個功能有助于用戶發(fā)現(xiàn)具有異常方向的缺陷。

3. 比較和確認:新的軟件工具可在檢測之前、之中、之后為用戶提供更多的優(yōu)勢特性:

4. 滿足用戶對速度的需求:多組顯示、較大的文件容量、800%的高波幅范圍以及簡化的菜單結(jié)構(gòu),都有助于加速檢測進程,而且加快檢測進程的功能還不只這些。此外,得益于包括全聚焦方式(TFM)圖像在內(nèi)的一些、靈活的數(shù)據(jù)解讀工具,還可以更快地完成分析操作。

5. 大大地縮短了設(shè)置時間:擁有了可以更方便、更有效地配置儀器的多個功能,用戶可以立即投入到檢測工作中:

相關(guān)內(nèi)容

視頻:提供TFM/FMC功能的OmniScan X3相控陣儀器

有關(guān)全聚焦方式(TFM)的常見問題解答

使用全聚焦方式改進相控陣超聲成像效果

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